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NIB-2961A晶體管開關參數測試儀

晶體管開關參數測試儀產品簡介:
測試中小功率半導體三管開關參數,功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶體管。
Td延遲時間
tr被測晶體管上升時間
ton晶體管開啟時間
ts存貯時間
tf被測晶體管下降時間
toff晶體管下降時間
晶體管開關參數測試儀主要參數:
測量范圍:由5nS至500 nS
測量條件
Ib1=Ib2=1mA,  Ic=10 mA
 2) Ib1=Ib2=3mA,Ic=300 mA
 3) Ib1=Ib2=10mA,Ic=100 mA
 4) Ib1=Ib2=30mA,Ic=300 mA
 5) Ib1=Ib2=50mA,Ic=500 mA
脈沖寬度:0.7-2.5uS
±脈沖**:≤2nS
±脈沖幅度:±10V±0.5V
信 號 源:頻率20K
示 波 器:帶寬: 1000MHz
掃        速:20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm 200nS/cm

CRT顯示輸入/輸出波形 計算機顯示測量參數及測量結果。

NIB-2961A晶體管開關參數測試儀|晶體管開關時間測試儀

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